手持式XRF熒光光譜儀ElvaX
在合金分析分析應(yīng)用方面，ElvaX ProSpector是理想的金屬牌號(hào)鑒定和質(zhì)量控制設(shè)備。高計(jì)數(shù)率的（達(dá)100Kcps）ProSpector加上高分辨率的SDD探測(cè)器，它可以在數(shù)秒內(nèi)告知您合金的牌號(hào)和元素組成。初始化線束的過濾器和根據(jù)不同合金自動(dòng)選擇佳激發(fā)模式的控制系統(tǒng)，使ProSpector能夠極大地改善信號(hào)的背景比。測(cè)試結(jié)果可以數(shù)秒內(nèi)在PDA顯示屏上顯示。ProSpector重1.4Kg，電池可以運(yùn)行8小時(shí)，結(jié)果設(shè)計(jì)堅(jiān)固耐用。
眾所周知，鈦合金質(zhì)輕、硬度強(qiáng)、耐高溫，主要應(yīng)用在、航空航天、體育器材、醫(yī)療行業(yè)鈦合金在這類應(yīng)用程序中的組件通常是高保部件，無損檢測(cè)在這類應(yīng)用中尤其重要。XRF熒 光光譜儀可以快速、準(zhǔn)確的分析鈦系合金。
市場(chǎng)強(qiáng)大的分析工具
氦氣凈化探測(cè)儀增強(qiáng)對(duì)輕元素的檢測(cè)
開放的自定義軟件
輕元素分析（可選）
樣品測(cè)試定位攝像頭（可選）
檢測(cè)能力
檢測(cè)范圍Cl（17）- U（92），可擴(kuò)展到Mg（12）- U（92）元素
檢測(cè)濃度低于10ppm（輕質(zhì)基體中的大多數(shù)元素），金屬合金<0.01%
X 射線產(chǎn)生器
X射線管陽(yáng)極Au 或Ag 靶管，空氣冷卻，其他靶管可選
X射線發(fā)生器4-40KV（可調(diào)步長(zhǎng)0.1KV）；
0-100μA（可調(diào)步長(zhǎng)0.2μA）；大功率4W
穩(wěn)定性0.1% × 8小時(shí)以上
光束大小3 X 4 mm，（訂制可達(dá)10mm）
X 射線探測(cè)器
標(biāo)配探測(cè)器: Si-Pin (165 eV FWHM @ 5.9 kev),帶電子制冷，有效面積6 mm
鈹窗厚度:0.5 mil
可選探測(cè)器: 高性能SDD (<145 eV FWHM @5,95 keV)，有效面積25 mm
樣品室
尺寸/重量：標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試室：16” X 13” X 6.5”; 5.5kg
電 源：電池供電可達(dá)8小時(shí)
軟 件
操作系統(tǒng)PDA采用Windows CE/Mobile；自動(dòng)進(jìn)行光譜校正/調(diào)整；用戶自定義打印數(shù)據(jù).
數(shù)據(jù)采集時(shí)間：10-1200秒
光譜處理：譜峰自動(dòng)查找；譜峰去卷積；背景消除；元素自動(dòng)識(shí)別；背景之上的凈峰強(qiáng)度
算法：采用基本參數(shù)法（FP），二次多項(xiàng)式逐步回歸分析法，手動(dòng)光譜比較法
控制控制：X 射線源輸出控制、數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)參數(shù)設(shè)定、樣品及濾波片選擇（可選）
XRFElvaX
手持式XRF熒光光譜儀ElvaX
XRFElvaX
手持式XRF熒光光譜儀ElvaX
