BJ2961A晶體管開關(guān)參數(shù)測試儀儀器主要測量參數(shù) 測試中小功率半導(dǎo)體三極管開關(guān)參數(shù), 功率由100mW至1W的NPN或PNP型晶體管。 Td延遲時間 tr被測晶體管上升時間 ton晶體管開啟時間

產(chǎn)品描述

BJ2961A晶體管開關(guān)參數(shù)測試儀

BJ2961A晶體管開關(guān)參數(shù)測試儀產(chǎn)品描述：

儀器主要測量參數(shù)

測試中小功率半導(dǎo)體三極管開關(guān)參數(shù),

功率由100mW至1W的NPN或PNP型晶體管。

Td延遲時間

tr被測晶體管上升時間

ton晶體管開啟時間

ts存貯時間

tf被測晶體管下降時間

toff晶體管下降時間

BJ2961A晶體管開關(guān)參數(shù)測試儀參數(shù)：
測量范圍：由5nS至500 nS. 測量條件: 1) Ib1=Ib2=1mA, Ic=10 mA . 2) Ib1=Ib2=3mA, Ic=300 mA . 3) Ib1=Ib2=10mA, Ic=100 mA. 4) Ib1=Ib2=30mA, Ic=300 mA. 5) Ib1=Ib2=50mA, Ic=500 mA. 脈沖寬度:0.7-2.5uS . ±脈沖前沿:≤2nS. ±脈沖幅度: ±10V±0.5V . 儀器組成及技術(shù)指標： 1)脈沖信號源：頻率20K 2)取樣示波器：帶寬: 1000MHz . 掃速: 20nS/cm . 50nS/cm . 100nS/cm . 200nS/cm . 3)CRT顯示輸入/輸出波形計算機顯示測量參數(shù)及測量結(jié)果

A456CNBI1 A456CNBI1 A456CNBI1 A456CNBI1 A456CNBI1 MiniTest740F2 MiniTest740F2 MiniTest740F2 MIKROTESTG6 MIKROTESTG6 MIKROTESTG6 QuaNix4500 QuaNix4500 QuaNix4500 MiniTest740F15 MiniTest740F15 MiniTest740F15 LYT2001 LYT2001 LYT2001 LW2010 LW2010 LW2010 MiniTest740FN1.5 MiniTest740FN1.5 MiniTest740FN1.5 MIKROTEST6S5 MIKROTEST6S5 MIKROTEST6S5 MIKROTEST6S20 MIKROTEST6S20 MIKROTEST6S20 MIKROTEST6S10 MIKROTEST6S10 MIKROTEST6S10 MIKROTEST6S3 MIKROTEST6S3 MIKROTEST6S3 456 456 456