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- 產品名稱：光切法顯微鏡
- 產品型號：9J(JBQ)
- 產品價格：0.00 元
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簡單介紹
9J(JBQ) 光切法顯微鏡產品介紹
本儀器是以光切法測量另件加工表面的微觀不平度。其能判斷別國家標準GB 1031-68所規(guī)定▽3-▽9級表面光潔度。
測量范圍不平度平均高度值：﹥0.8～1.6微米；>1.6～6.3微米；>6.3～20微米；>20～80微米
表面光潔度級別：9、8～7、6～5、4～3
所需物鏡：60倍N.A.0.55、30倍N.A.0.40、14倍N.A.0.20、
7倍N.A.0.12
總放大倍數(shù)：510×、260×、120×、60×
物鏡組件工作距離：0.04mm、0.2mm、2.5mm 、9.5mm
視場：0.3mm、0.6mm、1.3mm、2.5mm
攝影裝置放大倍數(shù)：約6×
產品描述
9J(JBQ)
9JJBQ
光切法顯微鏡9J(JBQ)
9J(JBQ) 光切法顯微鏡
本儀器是以光切法測量另件加工表面的微觀不平度。其能判斷別國家標準GB 1031-68所規(guī)定▽3-▽9級表面光潔度。
對于表面劃痕、刻線或某些缺陷的深度也可用來進行測量。
光切法特點是在不破壞表面的狀況下進行的。是一種間接測量方法。即要經(jīng)過計算后才能確定紋痕的不平度。
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測量范圍不平度平均高度值
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﹥0.8～1.6微米
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>1.6～6.3微米
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>6.3～20微米
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>20～80微米
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表面光潔度級別
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9
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8～7
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6～5
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4～3
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所需物鏡
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60倍N.A.0.55
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30倍N.A.0.40
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14倍N.A.0.20
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7倍N.A.0.12
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總放大倍數(shù)
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510×
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260×
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120×
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60×
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物鏡組件工作距離
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0.04mm
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0.2mm
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2.5mm
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9.5mm
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視場
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0.3mm
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0.6mm
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1.3mm
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2.5mm
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攝影裝置放大倍數(shù)
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約6×
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測量不平度范圍
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（0.8～80）微米
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不平度寬度
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用測微目鏡
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0.7微米～2.5mm
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用座標工作臺
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（0.01～13）mm
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儀器重量
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約23kg
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外形尺寸
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約180×290×470mm
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