WKL-702 顆粒圖像分析儀產(chǎn)品介紹 WKL-702顆粒圖像分析儀適用于磨料、涂料、非金屬礦、化學(xué)試劑、粉塵、填料等各種粉末顆粒的粒度測(cè)量、形貌觀察和分析。 測(cè)量范圍：1～3000微米 *大光學(xué)放大倍數(shù)：1600倍 *大分辨率：0.1微米/像素 準(zhǔn)確性誤差：< ±3%(國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)) 重復(fù)性偏差：< ±3%(國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)) 數(shù)據(jù)輸出：周長(zhǎng)分布、面積分布、長(zhǎng)徑分布、短徑分布、周長(zhǎng)相當(dāng)徑分布、面積相當(dāng)徑分布、Feret徑分布、長(zhǎng)短徑比、中間（D50）、有效粒徑（D10）、限定粒徑（D60、D30、D97）、個(gè)數(shù)長(zhǎng)度平均徑、個(gè)數(shù)面積平均徑、個(gè)數(shù)體積平均徑、長(zhǎng)度面積平均徑、長(zhǎng)度體積平均徑、面積體積平均徑、不均勻系數(shù)、曲率系數(shù)。 配置參數(shù)（配置1國(guó)產(chǎn)顯微鏡）（配置2進(jìn)口顯微鏡） 三目生物顯微鏡：平場(chǎng)目鏡：10×、16× 消色